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様々な用途に合わせたテストクリップをご用意しています。外れにくいフックタイプ、SMDデバイスに最適なグラバータイプ、簡単にアッセンブル出来るDIYタイプ、0.45mmピッチでも使用できるチャレンジャークリップ、高電圧でも安全に使用できるIEC準拠タイプまで幅広いセレクションです。

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リードピッチが0.25mmまで使用できる、優れたテストクリップです。クリップ先端が絶縁されており、並べて使
導体をむき出しにして使えない時などに絶縁体を突刺して測定します。
端子台に磁石で固定。先端のマグネットのサイズはφ4mm 〜7mmストレート、直角φ4バナナプラグに挿して使用し
0.8mmピッチまでのSMDデバイスのテストに最適なテストクリップです。 薄型ボディーで並べて使えます。
ELECTRO PJP社のミニテストクリップ、Proシリーズ。 DIYタイプ、パッチコード付、バナナプラグ、安全バ
ロングタイプのテストクリップは先端がクリップ、フック、ワニ口タイプと三種類あります。 Φ4mmバナナプ
ロングタイプのテストクリップは先端がクリップ、フック、ワニ口タイプと三種類あります。高安全タイプは接


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