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様々な用途に合わせたテストクリップをご用意しています。外れにくいフックタイプ、SMDデバイスに最適なグラバータイプ、簡単にアッセンブル出来るDIYタイプ、0.45mmピッチでも使用できるチャレンジャークリップ、高電圧でも安全に使用できるIEC準拠タイプまで幅広いセレクションです。

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	SMD パッケージのリードをしっかり挟んで評価します。


	リードピッチが0.25mmまで使用できる、優れたテストクリップです。クリップ先端が絶縁されており、並べて使…


	先端がフック状になっているテストクリップです。しっかりと対象物を挟み込んで使えます。


	手の届きにくい狭くて深い場所にも使用できる様全長が152.4mmと長いデザインになっています。


	先端がフック状になっており、マイクログラバーよりもボディー長が長くなっています。


	標準DIPパッケージのテストに適したテストクリップです。

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