DIP ICテストクリップ：ヘビーデュ-ティータイプ：釘頭ピン
KE-TCシリーズ
■スタンダード・タイプのテストクリップとは違った
ユニークなコンタクト構造。
■この新しいコンタクトは表面酸化したり、油汚れした
ICリードにもがっちりと接触できるように先端が
ナイフエッジになっており、ICリードにしっかりと
くい込んで接触する万能タイプのICクリップです。
仕様
ピン数：8〜64
ボディ：ガラス繊維入り（30％）静電防止プラスチック材
（UL94V-0）
黒色
誘電強度---20KV/mm
表面抵抗---106Ω/cm2
コンタクト材：合金（CuNi18Zn20）メッキ無し
温度範囲：-55℃〜+165℃
相対湿度：80％以下
最大電流/最大電圧：2A/250V
テスト電圧：コンタクトとコンタクト間=1000V
：コンタクトとアース間=1500V
この商品は・・・
この商品の詳細なお問い合わせは、お問い合わせページをご利用のうえお気軽にご連絡ください。
|
 |
|
カタログ請求
